Weltmetrologietag 2022 - METRAS
Mai 27, 2022

Weltmetrologietag 2022

Digitale Technologien wie künstliche Intelligenz, Big Data und maschinelles Lernen werden für die Fertigungsindustrie immer wichtiger. Man stelle sich nur die Auswirkungen auf die Metrologie – die Wissenschaft des Messens – vor.

“Metrologie im digitalen Zeitalter” ist das Thema des diesjährigen Weltmetrologietages, der jährlich am 20. Mai begangen wird. Das Thema wurde gewählt, weil die digitale Technologie die Metrologie revolutioniert und einen der spannendsten Trends der heutigen Gesellschaft darstellt. Genaue und faire Daten sind ein wichtiger Eckpfeiler der digitalen Entwicklung von Wissenschaft und Technik. Die daraus resultierenden hochwertigen Daten, die auf Messnormen basieren, sind der Schlüssel, um unsere Branche auf die nächste Stufe des digitalen Wandels zu bringen.

Wie die Direktoren von BIPM und BIML in ihrer gemeinsamen Botschaft erklären: “Die digitale Transformation der Metrologie kann unserer Gemeinschaft viele Vorteile bringen. Sie kann die Markteinführung von Messprodukten und -dienstleistungen beschleunigen und die mit Genehmigungsverfahren verbundenen Verzögerungen verringern. Dies wiederum trägt zu Innovation, Produktflexibilität und Nachhaltigkeit bei.”

Die ISO hat gerade die gemeinsame Absichtserklärung zur digitalen Transformation der internationalen Wissenschafts- und Qualitätsinfrastruktur unterzeichnet. Die gemeinsame Erklärung bietet den unterzeichnenden Organisationen eine Plattform, um ihre Unterstützung in einer für ihre jeweilige Organisation angemessenen Weise zu bekunden. Dieses gemeinsame Verständnis wird dazu beitragen, die Entwicklung, Umsetzung und Förderung des SI Digital Framework als Teil einer umfassenderen digitalen Transformation der internationalen Wissenschafts- und Qualitätsinfrastruktur voranzutreiben.

Die digitale Transformation der Metrologie kann unserer Gemeinschaft viele Vorteile bringen.

Die gemeinsame Absichtserklärung ist Teil einer laufenden Initiative zur Entwicklung und Einführung eines weltweit einheitlichen und sicheren Datenaustauschformats auf der Grundlage des Internationalen Einheitensystems (SI), auch bekannt als SI-Broschüre.

Die Normenreihe ISO 80000 für Größen und Einheiten ist ein wesentliches Element der SI-Broschüre, da sie harmonisierte Begriffe, Definitionen und Symbole für die in Wissenschaft und Technik verwendeten Größen und Einheiten bereitstellt und damit eine einheitliche Sprache für die Übermittlung genauer Messinformationen zwischen Wissenschaftlern, Ingenieuren und allen am Messwesen Beteiligten bietet.

Das SI Digital Framework wird die Implementierung neuer Dienste ermöglichen, die den besten Gebrauch von offenen Datenformaten, Softwarewerkzeugen und Diensten machen, die auf der SI-Kerndarstellung aufbauen. Solche Dienste werden dazu beitragen, qualitativ hochwertige Daten zu produzieren und sie in kohärenter und konsistenter Form für Analysen zur Verfügung zu stellen. Das Ergebnis werden neue digitale Anwendungen sein, die in der breiteren Metrologiegemeinschaft und in Forschungsdisziplinen, die sich auf das SI stützen, entwickelt und eingesetzt werden.

Die gemeinsame Erklärung war zuvor vom BIPM, der Internationalen Organisation für das gesetzliche Messwesen (OIML), der International Measurement Confederation (IMEKO), dem Internationalen Wissenschaftsrat (ISC) und seinem Datenausschuss (CODATA) unterzeichnet worden. “Durch die Aufnahme der ISO werden die Zusammenarbeit und die globale Reichweite der Initiative weiter gestärkt”, heißt es in der Pressemitteilung des BIPM.

Der Weltmetrologietag, der jedes Jahr am 20. Mai begangen wird, erinnert an den Tag im Jahr 1875, an dem der Meter-Vertrag unterzeichnet wurde, der den Grundstein für ein globales System gemeinsamer Messungen legte, die alle auf Naturkonstanten beruhen.

Das Internationale Büro für Maß und Gewicht (BIPM) und die Internationale Organisation für das gesetzliche Messwesen (OIML), die den Weltmetrologietag organisieren, arbeiten aktiv mit einer Reihe von technischen Ausschüssen der ISO zusammen.

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